CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475778007 - 26 de abril de 2013
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Rohit Kapur
CTL for Test Information of Digital ICs Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

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From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability

173 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 26 de abril de 2013
ISBN13 9781475778007
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 173
Dimensões 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Idioma Inglês  

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