CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402072932 - 31 de outubro de 2002
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Rohit Kapur
CTL for Test Information of Digital ICs 2002 edition

Preço
R$ 572,90
excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 2 - 8 de out
Receba avisos sobre novos lançamentos de Rohit Kapur

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Também disponível como:

From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability

173 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de outubro de 2002
ISBN13 9781402072932
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 173
Dimensões 155 × 235 × 12 mm   ·   439 g
Idioma Inglês  

Mais da mesma editora

Ver tudo de Rohit Kapur