Modeling and Analysis of Transient Processes in Open Resonant Structures: New Methods and Techniques - Springer Series in Optical Sciences - Yuriy K. Sirenko - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489989567 - 19 de setembro de 2014
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Yuriy K. Sirenko
Modeling and Analysis of Transient Processes in Open Resonant Structures: New Methods and Techniques - Springer Series in Optical Sciences 2007 edition

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This book describes a systematic approach to scattering of transient fields which can be introduced in undergraduate or graduate courses. The methods developed and the mathematical and physical results obtained provide a basis on which a modern theory for the scattering of resonant non-harmonic waves can be developed.

353 pages

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 19 de setembro de 2014
ISBN13 9781489989567
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 353
Dimensões 155 × 235 × 19 mm   ·   512 g
Idioma Inglês  

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