Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing - Benoit Nadeau-dostie - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475782912 - 26 de abril de 2013

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Benoit Nadeau-dostie
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing Benoit Nadeau-dostie Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Name: Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing
Price: 842.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: Benoit Nadeau-dostie

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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing

Benoit Nadeau-dostie

Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	26 de abril de 2013
ISBN13	9781475782912
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	239
Dimensões	178 × 254 × 14 mm · 458 g
Idioma	Inglês
Editor	Nadeau-Dostie, Benoit