A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing - Charles E. Stroud - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475776263 - 18 de março de 2013
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A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

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A recent technological advance is the art of designing circuits to test themselves, referred to as a Built-In Self-Test. This book is written from a designer's perspective and describes the major BIST approaches that have been proposed and implemented, along with their advantages and limitations.


340 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 18 de março de 2013
ISBN13 9781475776263
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 320
Dimensões 155 × 235 × 18 mm   ·   480 g
Idioma Inglês  

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