Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - Tibor Grasser - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461479086 - 23 de outubro de 2013
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Tibor Grasser
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits 2014 edition

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Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

864 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 23 de outubro de 2013
ISBN13 9781461479086
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 810
Dimensões 158 × 241 × 50 mm   ·   1,50 kg
Idioma Inglês  
Editor Grasser, Tibor

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