Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461360049 - 4 de outubro de 2012

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Frans P. M. Beenker
Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing Frans P. M. Beenker Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1995 edition

Name: Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing
Price: 847.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: Frans P. M. Beenker

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1995 edition

(1995) R$ 847,90

Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing

Frans P. M. Beenker

Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1995 edition

221 pages, black & white illustrations, bibliography

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	4 de outubro de 2012
ISBN13	9781461360049
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	212
Dimensões	155 × 235 × 12 mm · 326 g
Idioma	Inglês