Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Livros - Kluwer Academic Publishers - 9780792396581 - 30 de novembro de 1995
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Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 edition

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Considering the testability aspects for digital ICs, this book integrates the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, gives a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets.


212 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 30 de novembro de 1995
ISBN13 9780792396581
Editoras Kluwer Academic Publishers
Páginas 212
Dimensões 170 × 244 × 14 mm   ·   498 g
Idioma Inglês  

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