Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Hisham Haddara - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461285847 - 26 de setembro de 2011
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Hisham Haddara
Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Preço
R$ 838,90
excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 6 - 12 de out
Receba avisos sobre novos lançamentos de Hisham Haddara

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Também disponível como:

The need for more deep and extensive characterization of MOSFET param eters has further increased as the applications of this device have gained ground in many new fields in which its performance has become more and more sensi tive to the properties of its Si - Si0 interface.

232 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 26 de setembro de 2011
ISBN13 9781461285847
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 232
Dimensões 155 × 235 × 13 mm   ·   358 g
Idioma Inglês  
Editor Haddara, Hisham

Mais da mesma editora

Ver tudo de Hisham Haddara