Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945594 - 14 de dezembro de 2011
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Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

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Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

281 pages, black & white illustrations

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 14 de dezembro de 2011
ISBN13 9781441945594
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 281
Dimensões 155 × 235 × 15 mm   ·   421 g
Idioma Inglês  

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