Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering - Telman Aliev - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441944108 - 24 de novembro de 2010
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Telman Aliev
Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

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This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise.

224 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 24 de novembro de 2010
ISBN13 9781441944108
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 224
Dimensões 155 × 235 × 12 mm   ·   335 g
Idioma Inglês  

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