Microscopy of Semiconducting Materials 2007: Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK - Springer Proceedings in Physics - - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402086144 - 18 de setembro de 2008
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Microscopy of Semiconducting Materials 2007: Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK - Springer Proceedings in Physics 2008 edition

Preço
R$ 1.270,90
excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 1 - 13 de out

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

In view of this scenario, the vital importance of transmission and scanning electron microscopy, together with X-ray and scanning probe approaches can immediately be seen. The conference featured developments in high resolution microscopy and nanoanalysis, including the exploitation of recently introduced aberration-corrected electron microscopes.

512 pages, Illustrations (some col.)

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 18 de setembro de 2008
ISBN13 9781402086144
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 498
Dimensões 155 × 235 × 25 mm   ·   975 g
Editor Cullis, A.G.
Editor Midgley, P.A.

Mais da mesma editora