Image-Based Fractal Description of Microstructures - J.M. Li - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402075070 - 31 de julho de 2003
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J.M. Li
Image-Based Fractal Description of Microstructures 2003 edition

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Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book.

272 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de julho de 2003
ISBN13 9781402075070
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 272
Dimensões 155 × 235 × 17 mm   ·   616 g
Idioma Inglês  

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