Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing - Nicola Nicolici - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402072352 - 28 de fevereiro de 2003

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Nicola Nicolici
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing Nicola Nicolici 2003 edition

Name: Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing
Price: 568.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: Nicola Nicolici

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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing

Nicola Nicolici

2003 edition

This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.

178 pages, biography

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	28 de fevereiro de 2003
ISBN13	9781402072352
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	178
Dimensões	210 × 297 × 12 mm · 476 g
Idioma	Inglês