Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II - E Gusev - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402043666 - 27 de janeiro de 2006

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E Gusev
Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II E Gusev 2006 edition

Name: Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II
Price: 1111.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: E Gusev

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Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II

E Gusev

2006 edition

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

492 pages, biography

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	27 de janeiro de 2006
ISBN13	9781402043666
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	492
Dimensões	155 × 235 × 25 mm · 703 g
Idioma	Inglês
Editor	Gusev, Evgeni