Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects - S Alagumalai - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402030727 - 15 de fevereiro de 2005

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S Alagumalai
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects S Alagumalai 2005 edition

Name: Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects
Price: 1266.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: S Alagumalai

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Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects

S Alagumalai

2005 edition

This book attempts to describe the underlying axioms of test theory, and, in particular, the concepts of objective measurement and the Rasch model, and then link theory to practice.

360 pages, biography

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	15 de fevereiro de 2005
ISBN13	9781402030727
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	360
Dimensões	155 × 235 × 22 mm · 707 g
Idioma	Inglês
Editor	Alagumalai, Sivakumar
Editor	Curtis, David D.
Editor	Hungi, Njora