Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices - Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired)) - Livros - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780120885749 - 1 de dezembro de 2014
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Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired))
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices 2º edição

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Offers coverage of some of the major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. This book explains the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects and radiation damage.

758 pages, colour illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 1 de dezembro de 2014
ISBN13 9780120885749
Editoras Elsevier Science Publishing Co Inc
Páginas 758
Dimensões 165 × 232 × 46 mm   ·   1,17 kg
Idioma Inglês  

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