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Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: a Lecture Notes Series Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA)
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Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: a Lecture Notes Series
Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA)
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
350 pages
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 12 de novembro de 2015 |
| ISBN13 | 9789814630351 |
| Editoras | World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
| Páginas | 342 |
| Dimensões | 229 × 155 × 19 mm · 492 g |
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