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Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: a Lecture Notes Series Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA)
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Fundamentals of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: a Lecture Notes Series
Reifenberger, Ronald (Purdue University, USA)
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
350 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 12 de novembro de 2015 |
| ISBN13 | 9789814630344 |
| Editoras | World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
| Páginas | 342 |
| Dimensões | 158 × 238 × 23 mm · 614 g |
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