X-ray Scattering from Semiconductors and Other Materials (3rd Edition) - Fewster, Paul F (PANalytical Research Centre, UK) - Livros - World Scientific Publishing Co Pte Ltd - 9789814436922 - 27 de abril de 2015
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X-ray Scattering from Semiconductors and Other Materials (3rd Edition) 3 Revised edition

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400 pages

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 27 de abril de 2015
ISBN13 9789814436922
Editoras World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Páginas 512
Dimensões 290 × 162 × 32 mm   ·   866 g

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