X-ray Scattering from Semiconductors (2nd Edition) - Fewster, Paul F (PANalytical Research Centre, UK) - Livros - Imperial College Press - 9781860943607 - 8 de julho de 2003
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X-ray Scattering from Semiconductors (2nd Edition) 2 Revised edition

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A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.


316 pages, Illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 8 de julho de 2003
ISBN13 9781860943607
Editoras Imperial College Press
Páginas 316
Dimensões 154 × 230 × 24 mm   ·   666 g
Idioma Inglês  

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