Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science - Cor Claeys - Livros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030067472 - 30 de janeiro de 2019
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition

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material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.


438 pages, 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 20

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 30 de janeiro de 2019
ISBN13 9783030067472
Editoras Springer Nature Switzerland AG
Páginas 438
Dimensões 232 × 154 × 28 mm   ·   698 g
Idioma Alemão  

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