Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Livros - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 17 de março de 2021

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Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method Pierre-Richard Dahoo

Name: Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
Price: 923.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: Pierre-Richard Dahoo

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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Pierre-Richard Dahoo

288 pages

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	17 de março de 2021
ISBN13	9781786306876
Editoras	ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Páginas	288
Dimensões	150 × 220 × 20 mm · 562 g
Idioma	Inglês