Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties - Pierre-Richard Dahoo - Livros - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306401 - 12 de janeiro de 2021

Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Conte aos seus amigos sobre este item:

Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties Pierre-Richard Dahoo

Name: Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Price: 923.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: Pierre-Richard Dahoo

Preço

R$ 923,90

excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 24 de set - 6 de out

Receba avisos sobre novos lançamentos de Pierre-Richard Dahoo

O que dizem nossos clientes:

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor

Melhor classificação na Trustpilot

Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

Pierre-Richard Dahoo

256 pages

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	12 de janeiro de 2021
ISBN13	9781786306401
Editoras	ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Páginas	256
Dimensões	150 × 220 × 20 mm · 526 g
Idioma	Inglês