Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489983138 - 5 de setembro de 2014
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Patrick Girard
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices 2010 edition

Preço
R$ 612,90
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This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.

363 pages, 24 black & white tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 5 de setembro de 2014
ISBN13 9781489983138
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 363
Dimensões 155 × 235 × 20 mm   ·   539 g
Idioma Inglês  
Editor Girard, Patrick
Editor Nicolici, Nicola
Editor Wen, Xiaoqing

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