Advances in X-Ray Analysis: Volume 32 - Charles S Barrett - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475791129 - 18 de junho de 2013
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Charles S Barrett
Advances in X-Ray Analysis: Volume 32 Softcover reprint of the original 1st ed. 1989 edition

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The 37th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 1-5, 1988, at the Sheraton Steamboat Resort and Conference Center, Steamboat Springs, Colorado.

682 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 18 de junho de 2013
ISBN13 9781475791129
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 682
Dimensões 178 × 254 × 36 mm   ·   1,21 kg
Idioma Inglês  
Editor Barrett, Charles S.
Editor Gilfrich, J.V.
Editor Jenkins, Ron
Editor Predecki, Paul K.
Editor Richardson Jr., J.W.
Editor Russ, John C.

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