IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - 12 de outubro de 2012
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Ravi K Gulati
IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

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Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 12 de outubro de 2012
ISBN13 9781461363774
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 124
Dimensões 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
Idioma Inglês  
Editor Gulati, Ravi K.
Editor Hawkins, Charles F.

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