Advances in X-Ray Analysis: Volume 27 - Jerome B. Cohen - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461297130 - 2 de outubro de 2011
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Jerome B. Cohen
Advances in X-Ray Analysis: Volume 27 Softcover reprint of the original 1st ed. 1984 edition

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This volume constitutes the proceedings of the 1983 Denver Conference on Applications of X-ray Analysis and is the 27th in the series. The conference was held jointly with the American Crystal lographic Association at Snowmass Resort, Colorado, from August 1 to 5, 1983.

596 pages, black & white illustrations, bibliography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 2 de outubro de 2011
ISBN13 9781461297130
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 596
Dimensões 178 × 254 × 31 mm   ·   1,03 kg
Idioma Inglês  

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