Risk Methodologies for Technological Legacies - NATO Science Series IV - Dennis C Bley - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402012587 - 30 de abril de 2003
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Dennis C Bley
Risk Methodologies for Technological Legacies - NATO Science Series IV Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

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Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000

393 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 30 de abril de 2003
ISBN13 9781402012587
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 366
Dimensões 160 × 240 × 20 mm   ·   625 g
Idioma Inglês  
Editor Bley, Dennis
Editor Eremenko, Vitaly A.

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