Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Livros - Cambridge University Press - 9780521482660 - 23 de maio de 1996
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)
Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Preço
R$ 935,90
excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 30 de set - 12 de out
Receba avisos sobre novos lançamentos de Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Também disponível como:

Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

456 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 23 de maio de 1996
ISBN13 9780521482660
Editoras Cambridge University Press
Páginas 458
Dimensões 170 × 244 × 25 mm   ·   1,10 kg
Idioma Inglês  

Mais da mesma editora

Ver tudo de Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)