Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Livros - Cambridge University Press - 9780521017954 - 22 de agosto de 2005
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Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)
Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

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Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

460 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 22 de agosto de 2005
ISBN13 9780521017954
Editoras Cambridge University Press
Páginas 460
Dimensões 170 × 244 × 25 mm   ·   731 g
Idioma Inglês  

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