Conte aos seus amigos sobre este item:
Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis - Wiley Series in Probability and Statistics Nelson, Wayne B. (California Institute of Technology (Caltech); University of Illinois) 2 Revised edition
Preço
R$ 885,90
excluindo impostos
Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)
Espera-se estar pronto para envio 30 de set - 12 de out
Receba avisos sobre novos lançamentos de Nelson, Wayne B. (California Institute of Technology (Caltech); University of Illinois)
O que dizem nossos clientes:
Adicione à sua lista de desejos do iMusic
Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis - Wiley Series in Probability and Statistics
Nelson, Wayne B. (California Institute of Technology (Caltech); University of Illinois)
Useful methodology has been developed in accelerated testing. This work deals with the topic Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses. It is useful for practitioners.
624 pages, black & white illustrations, figures
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 1 de dezembro de 2007 |
| Data do lançamento original | 2004 |
| ISBN13 | 9780471697367 |
| Editoras | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 624 |
| Dimensões | 154 × 232 × 38 mm · 820 g |
| Idioma | Inglês |
