Principles of Electron Optics, Volume 2: Applied Geometrical Optics - Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France) - Livros - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780128133699 - 13 de dezembro de 2017
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)
Principles of Electron Optics, Volume 2: Applied Geometrical Optics 2º edição

Preço
R$ 1.460,90
excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 29 de set - 9 de out
Receba avisos sobre novos lançamentos de Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

766 pages

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 13 de dezembro de 2017
ISBN13 9780128133699
Editoras Elsevier Science Publishing Co Inc
Páginas 766
Dimensões 235 × 192 × 40 mm   ·   1,64 kg
Idioma Inglês  

Mais por Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)

Mostrar tudo

Mais da mesma editora

Ver tudo de Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)