From scientific instrument to industrial machine: Coping with architectural stress in embedded systems - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering - Sjir Van Loo - Livros - Springer - 9789400741461 - 29 de abril de 2012
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Sjir Van Loo
From scientific instrument to industrial machine: Coping with architectural stress in embedded systems - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering 2012 edition

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Architectural stress is the inability of a system design to respond to new market demands. It is an important yet often concealed issue in high tech systems. In this book, the authors look at the phenomenon of architectural stress in embedded systems in the context of a transmission electron microscope system built by FEI Company.

90 pages, 55 black & white illustrations, 1 black & white tables, 1 colour tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 29 de abril de 2012
ISBN13 9789400741461
Editoras Springer
Gênero Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects
Páginas 112
Dimensões 155 × 235 × 6 mm   ·   185 g
Editor Doornbos, Richard
Editor Van Loo, Sjir

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