Conte aos seus amigos sobre este item:
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond Andrej Rumiantsev
Preço
R$ 767,90
excluindo impostos
Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)
Espera-se estar pronto para envio 24 de set - 6 de out
Receba avisos sobre novos lançamentos de Andrej Rumiantsev
O que dizem nossos clientes:
Adicione à sua lista de desejos do iMusic
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Andrej Rumiantsev
This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.
250 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 31 de julho de 2019 |
| ISBN13 | 9788770221122 |
| Editoras | River Publishers |
| Páginas | 278 |
| Dimensões | 150 × 220 × 20 mm · 526 g |
