Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie - Christian Jager - Livros - Diplom.de - 9783838611846 - 24 de novembro de 1998
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Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie German edition

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108 pages

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 24 de novembro de 1998
ISBN13 9783838611846
Editoras Diplom.de
Páginas 108
Dimensões 148 × 210 × 7 mm   ·   149 g
Idioma Alemão  

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