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Berührungslose Defektanalytik Von Halbleitermaterialien: Modellierung Und Quantitative Analyse Der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit Dr. Torsten Hahn German edition
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Berührungslose Defektanalytik Von Halbleitermaterialien: Modellierung Und Quantitative Analyse Der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit
Dr. Torsten Hahn
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 18 de maio de 2011 |
| ISBN13 | 9783838124407 |
| Editoras | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulsch |
| Páginas | 152 |
| Dimensões | 150 × 9 × 226 mm · 244 g |
| Idioma | Alemão |
