Sekundarionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dunnschichtsystemen: Der Einfluss ionenbeschussindizierter Prozesse auf die Sekundarteilchenemission im Zerstaubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflachen - Dieter Lipinsky - Livros - Deutscher Universitatsverlag - 9783824420667 - 1995
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Dieter Lipinsky
Sekundarionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dunnschichtsystemen: Der Einfluss ionenbeschussindizierter Prozesse auf die Sekundarteilchenemission im Zerstaubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflachen 1995 edition

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211 pages, black & white illustrations, bibliography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 1995
ISBN13 9783824420667
Editoras Deutscher Universitatsverlag
Páginas 211
Dimensões 155 × 235 × 12 mm   ·   312 g
Idioma Alemão  

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