Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences - J. Bourgoin - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642818349 - 8 de dezembro de 2011
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J. Bourgoin
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

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In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.

295 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 8 de dezembro de 2011
ISBN13 9783642818349
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 295
Dimensões 155 × 235 × 17 mm   ·   449 g
Idioma Inglês  

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