Modeling and Simulation of Gate Mislaignment Effect in Mosfets - Sharma Rupendra Kumar - Livros - Scholars\' Press - 9783639708028 - 7 de julho de 2015
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Modeling and Simulation of Gate Mislaignment Effect in Mosfets

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Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 7 de julho de 2015
ISBN13 9783639708028
Editoras Scholars\' Press
Páginas 156
Dimensões 152 × 229 × 9 mm   ·   250 g
Idioma Alemão  

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