Metrica De Idoneidad De Ontologias - Lozano-tello Adolfo - Livros - Publicia - 9783639646177 - 26 de janeiro de 2015
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Metrica De Idoneidad De Ontologias

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Publisher Marketing: El metodo OntoMetric permite a los usuarios medir la idoneidad de las ontologias existentes respecto a las necesidades de sus sistemas. En el texto se realiza una identificacion de un marco multinivel de 160 caracteristicas que deben ser consideradas para evaluar ontologias. Se proporciona el modelo conceptual de una ontologia en el dominio de las ontologias, Reference Ontology, que esta basada en el marco multinivel de caracteristicas. Se ha elaborado un metodo basado en el metodo de jerarquias analiticas que mide la idoneidad de un conjunto de ontologias candidatas que pueden ser incorporadas en un nuevo sistema. El metodo ofrece una medida cuantitativa de su idoneidad y sirve para decidir, de forma justificada, que ontologias son las mas adecuadas para el sistema que el usuario va a desarrollar. Se describe tambien el soporte tecnologico que asiste al metodo.

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 26 de janeiro de 2015
ISBN13 9783639646177
Editoras Publicia
Páginas 244
Dimensões 152 × 229 × 14 mm   ·   381 g
Idioma Alemão  

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