Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540232490 - 26 de novembro de 2004
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Mathias Schubert
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics 2004 edition

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The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

196 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 26 de novembro de 2004
ISBN13 9783540232490
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 196
Dimensões 155 × 232 × 12 mm   ·   476 g
Idioma Inglês   Alemão  

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