Thin Film Analysis by X-Ray Scattering - Birkholz, Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt / Oder, Germany) - Livros - Wiley-VCH Verlag GmbH - 9783527310524 - 15 de novembro de 2005
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Birkholz, Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt / Oder, Germany)
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

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With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films.

378 pages, Illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 15 de novembro de 2005
ISBN13 9783527310524
Editoras Wiley-VCH Verlag GmbH
Páginas 378
Dimensões 170 × 248 × 26 mm   ·   766 g
Idioma Inglês  

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