Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing - Wei-Ting Kary Chien - Livros - Springer Nature Switzerland AG - 9783032231895 - 15 de julho de 2026
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Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing

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Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 15 de julho de 2026
ISBN13 9783032231895
Editoras Springer Nature Switzerland AG
Páginas 506
Dimensões 150 × 220 × 20 mm   ·   1,09 kg
Idioma Alemão  

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