Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization - Sheldon Tan - Livros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030261740 - 25 de setembro de 2020
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Sheldon Tan
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization 2019 edition

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460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 25 de setembro de 2020
ISBN13 9783030261740
Editoras Springer Nature Switzerland AG
Páginas 460
Dimensões 150 × 220 × 10 mm   ·   765 g
Idioma Alemão  

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