Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences - - Livros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030092986 - 4 de janeiro de 2019
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition

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521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 4 de janeiro de 2019
ISBN13 9783030092986
Editoras Springer Nature Switzerland AG
Páginas 521
Dimensões 150 × 220 × 10 mm   ·   757 g
Idioma Alemão  
Editor Glatzel, Thilo
Editor Sadewasser, Sascha

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