Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Livros - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12 de agosto de 2016
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Preço
R$ 923,90
excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 23 de set - 5 de out
Receba avisos sobre novos lançamentos de Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 12 de agosto de 2016
ISBN13 9781848219366
Editoras ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Páginas 320
Dimensões 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

Mais por Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Mostrar tudo

Mais da mesma editora

Ver tudo de Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)