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Simulation of Transport in Nanodevices F Dollfus
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Simulation of Transport in Nanodevices
F Dollfus
Linear current-voltage pattern, has been and continues to be the basis for characterizing, evaluating performance, and designing integrated circuits, but is shown not to hold its supremacy as channel lengths are being scaled down.
380 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 13 de dezembro de 2016 |
| ISBN13 | 9781848215665 |
| Editoras | ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 228 |
| Dimensões | 165 × 241 × 28 mm · 717 g |
| Editor | Dollfus, Philippe (Center for Nanoscience and Nanotechnology, Orsay, France) |
| Editor | Triozon, Francois (CEA-LETI, Grenoble, France) |
