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Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Harland G. Tompkins
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Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
Harland G. Tompkins
178 pages
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 16 de dezembro de 2015 |
| ISBN13 | 9781606507278 |
| Editoras | Momentum Press |
| Páginas | 178 |
| Dimensões | 150 × 220 × 10 mm · 267 g |
| Idioma | Inglês |
