Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection - Fred Stevie - Livros - Momentum Press - 9781606505885 - 15 de setembro de 2015

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Fred Stevie
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Fred Stevie

Name: Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
Price: 342.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: Fred Stevie

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Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

Fred Stevie

150 pages

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	15 de setembro de 2015
ISBN13	9781606505885
Editoras	Momentum Press
Páginas	150
Dimensões	152 × 229 × 16 mm · 390 g
Idioma	Inglês